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Test

Unsere Leistungen umfassen:

• Erstellung der Testspezifikation und Testplanung
• On-wafer Messungen
• Entwicklung, Bestückung und Lieferung von Evaluation-Boards
• HF Charakterisierung
• Fehleranalyse (Infrarotfotografie, FIB)
• Visualisierung, Dokumentation und Testreports

Für komplexe Testphasen können wir unsere eigenen Ressourcen durch Fachkräfte und Equipment des IHP-Innovations for High Performance Microelectronics verstärken.